主要特点
- 最多80个并行测试设备
- 用于接触式、非接触式、双接口、超高频
- 对加密非接触式设备的SAM支持
- 参数和功能测试
- 智能卡设备系列套件编辑器
随时可对所有智能卡模块进行测试
CT1000系统可以测试接触式和非接触式智能卡模块，也可以测试双接口设备（将接触式和非接触式卡芯片集成在单个模块中)。
开放的且可配置的CT1000测试仪，可以对智能卡模块所使用的任何通信协议进行测试，并针对新技术进行更新。该系统不仅可以对使用通用标准协议（如ISO 18000、EPC Global Gen 2、ISO 14443、ISO 15693、Mifare™、Desfire™、Felica™、ISO 11784/85、ICode™、Hitag™、ISO 7816、ISO 7813）的设备进行测试，还能测试下一代智能卡协议。
此外，CT1000系统可以使用完全由设备制造商定义的协议来进行功能验证。
RFID测试
RFID测试
CT1000射频识别通道可以对阻抗、反向调制指数、FDT时间进行非常精确和可靠的并行测量。
该通道可以对被测设备的通信协议进行实时编码和解码。
每个通道还配有一个控制器，可对被测设备的通信协议进行真正的并行解码，从而对内部模块结构进行完整的功能测试。
多站点并行测试
多站点并行测试
CT1000测试仪可以以较低的成本进行高度并行测试：每个CT1000模块可以并行测试32个同步或异步设备。
此外，CT1000测试仪的设计目的是用于平行连接，
使其可以测试32个以上的站点。
当进行最终测试时，该测试仪可以连接到SPEA H1000 卷盘对卷盘处理器或第三方处理器。当进行晶片测试时，该测试仪可以通过专用电缆连接到探针上。
超精密测量用时短
超精密测量用时短
CT1000的最新技术模拟仪器可缩短测试时间，并进行非常精确的测量。
DVM单元能够对所获得的数值进行数据处理和数学计算。这样，即可以确保精确测量，又不会影响单站点或多站点并行测量的数据交换。
测试能力
测试能力
- 开路/短路/泄漏初步测试
- 电容和阻抗测量
- 设备特性
- 最终测试
- 有/无天线射频识别设备测试
- 信号清晰度和强度
测试程序生成和调试<1天
- 易于操作&功能强大的软件
- 射频识别信号形状图
- 信号查看器和数据分析器
- 智能卡测试功能库
- 调试软件
- 生产软件
设备
Combi设备（接触式+非接触式）
非接触式设备
射频识别
Wafer
