主要特点
- 每PIN的成本< 100 USD
- 每个DUT都有专用的CPU
- 存储了所有A/D资源的单张卡，可用于测试DUT
- 最多1,152个模拟/数字通道
- 集成到微机电系统刺激，与处理器/探针硬/软对接，作为台式机使用
面向微机电系统设备的测试仪
我们将测试仪缩小到只有明信片大小
您的测试需求是否针对具有共同特征的已定义设备系列？您不需要购买昂贵的通用混合信号测试仪：可以使用SPEA DOT 100，该系统可以以较低的成本满足微机电系统和其他低针数设备的测试要求。
DOT 100是基于每台设备结构设计的一款具有革命性的设备：每台被测设备都有一个专用的CPU来管理整个测试过程，而每张卡存储了6台设备并行测试的所有资源，其大小与明信片相同。
所有这些都被包含在便携式DOT 100中，其可以集成在SPEA微机电系统刺激中，与探针或处理器硬/软对接，又或用作台式装置。
多站点快速并行测试
多站点快速并行测试
- 每个设备有专用的CPU
- 最多1,152个模拟/数字通道
- 每个设备都有设备电源和时间测量单位
- 每个通道都有模式内存（30 Mstep）
- 异步数字能力
- 可编程逻辑单元（SPI、I2C总线、Uart、IO端口）
超高密度管脚电子
超高密度管脚电子
DOT测试仪的核心就是管脚电子设备，其可以在3/6个独立部分中提供48/96个通道。
每个部分包含：
- 8个数字通道@5MHz&8个模拟通道（DPS），最高10V；256 mA（每个管脚的驱动器和数字转换器）
- 8个数字信道@50MHz+1个模拟信道（多路驱动器和数字转换器）
- 2个时间测量装置
完全并行最终测试概念
完全并行最终测试概念
在生产过程结束时，SPEA测试装置可对完全封装的设备进行完整的参数和功能测试。
测试结束后，产品可以直接发送给客户，无需其他操作或重新测试。
测试程序生成和调试<1天
- 易于学习的编程环境
- 引导式测试程序生成
- 自动代码生成，可大大缩短开发、调试和发布程序所需的时间
- 自动数据导入
- 面向DUT和面向仪器的教学库
- DUT图
- 应用程序开发非常迅速
- 测试结果分析器
- Shmoo图
- 易于运行。易于监控。易于维护。
