Semicon China - SPEA Booth

2021年3月17日至19日中国国际半导体展

SPEA展位N3#3667

在上海新国际博览中心
发现我们最新的测试产品

 

了解在节省测试成本的同时如何捕获电子设备中的每个缺陷

Semiconductor Test - Power and Discretes - SPEA

功率测试的完整解决方案

 

 

借助DOT800T,SPEA提供了完整的电源测试解决方案,在一台机器上结合了所有资源,可以在整个电源应用范围内执行ISO,AC,DC测试。多核架构允许DOT800T在专用站上执行ISO测试,AC测试和DC测试,每个工作站都具有专用的独立控制器。

 

了解更多 >

MEMS and Sensors Test - MEMS Stimulus - SPEA

实际工作条件下的MEMS测试

 

SPEA handlers辅以最广泛的刺激单元,因此可以将所有处理,接触和完整测试MEMS及其他设备的元素整合到一个设备中。 SPEA刺激单元包括物理MEMS刺激,接触单元和所需的测试资源。

 

 

了解更多 >

SPEA Automatic Flying Probe Tester for Probecard

探针卡和载板测试

 

 

SPEA自动飞针测试机可以全面测试任何类型的探针卡或载板,准确地验证每个网卡和组件的正确工作和参数值,以检测每种可能存在的过程缺陷。此外,SPEA飞针测试机还可以简化探针卡或载板的维修过程。

 

了解更多 >

您想改善测试策略吗?

联系我们
2021 中国国际半导体展N3#3667展位与SPEA专家面对面沟通
Design & Code by dsweb.lab