Highlights
- Bis zu 80 Prüflinge können parallel getestet werden
- Kontaktbehaftete, kontaktlose, Dual-Interface und UHF-Prüflinge
- SAM-Support für kontaktlose Krypto-Prüflinge
- Parametrische und Funktionstests
- Editor für Smartcard-Familien
Bereit zum Testen all Ihrer Smartcard-Module
CT1000-Systeme können sowohl kontaktbehaftete als auch kontaktlose Smartcard-Module und Dual-Interface-Prüflinge testen (kontaktbehaftet und kontaktlose Kartenchips in einem einzigen Modul).modules).
Die CT1000-Tester sind offen und konfigurierbar, können jede Art von Kommunikationsprotokollen auf Smartcard-Modulen testen und für neue Technologien aufgerüstet werden. Die Systeme können alle Prüflinge testen, die die gängigen Standardprotokolle verwenden (wie ISO 18000, EPC Global Gen 2, ISO 14443, ISO 15693, MIFARE™, DESFIRE™, FeliCa™, ISO 11784/85, ICode™, Hitag™, ISO 7816, ISO 7813) und sind bereit, auch die nächste Generation an Kartenprotokollen zu testen.
Darüber hinaus ermöglichen CT1000-Systeme die Durchführung von Funktionstests unter Verwendung von kundenspezifischen Protokollen, die vollständig vom Chiphersteller definiert werden.
RFID Test
RFID Test
CT1000-RFID-Kanäle können parallel extrem genaue und zuverlässige Messungen zu Impedanz, Retro-Modulationsindex und FDT-Zeit durchführen.
Die Kanäle führen eine Kodierung und -Dekodierung des Kommunikationsprotokolls für den DUT.
Jeder Kanal ist außerdem mit einem Controller ausgestattet, um das Kommunikationsprotokoll des DUT parallel zu dekodieren und so einen vollständigen Funktionstest der internen Modulstruktur durchzuführen.
Multi-Site-Paralleltest
Multi-Site-Paralleltest
Mit CT1000-Testern können parallele Tests bei geringen Kosten durchgeführt werden: Jedes CT1000 kann 32 synchrone oder asynchrone Prüflinge parallel testen.
Weiterhin wurden CT1000-Tester so entwickelt, dass sie parallel geschaltet werden können
und so mehr als 32 Sites testen können.
Wenn die Tester für den Endtest verwendet werden, können sie an die SPEA H1000 Reel-to-Reel-Handler oder an Handler von Drittanbietern angeschlossen werden. Wenn sie für Wafertests verwendet werden, können sie über spezielle Kabel an den Prober angeschlossen werden.
Kurze Testzeit und hochgenaue Messungen
Kurze Testzeit und hochgenaue Messungen
Die hochmodernen analogen Messgeräte des CT1000 verbinden eine Reduktion des Testzeit mit extrem genauen Messungen.
Die DVM-Einheiten sind in der Lage, Daten zu verarbeiten und mathematische Berechnungen zu den gemessenen Werten durchzuführen. Dies gewährleistet genaue Messungen und keine Kompromisse beim Datenaustausch, sowohl bei Einzel- als auch parallelen Multi-Site-Messungen.
Testmöglichkeiten
Testmöglichkeiten
- Open-/Short-/Leakage-Vortests
- Kapazitäts- und Impedanzmessung
- Prüflingscharakterisierung
- Endtest
- Test von RFID-Prüflingen mit oder ohne Antenne
- Signalqualität und -stärke
Testprogrammerstellung & Debugging < 1 Tag
- Benutzerfreundliche und leistungsstarke Software
- Darstellung der RFID-Signalform
- Signal Viewer und Data Analyzer
- Bibliothek für Smartcard-Testfunktionen
- Debugging-Software
- Software für die Produktion
GERÄTE
Wafer
RFID
Kontaktlose Geräte
Kontaktgesteuerte Geräte
Kombigeräte (kontaktgesteuert+ kontaktlos)
