
T300

3030 Inline

3030X

SPEA 3030 Multimode

SPEA 3030 Compact ext

SPEA 3030 Compact

SPEA 3030 Rack

SPEA 3030 Benchtop

SPEA 3030 ICT-Tester
Highlights:
- Echte Paralleltests: 4-facher Durchsatz
- Ultraschnelle Testgeschwindigkeit, niedrigste Testkosten
- Ultraschnelles Handling
- Geführte automatisierte Applikationsentwicklung
- 100% Fehlerabdeckung
- True-Per-Pin-Architektur
- Präzise Kontaktierung mit motorisiertem Receiver
- Kundenspezifisch konfigurierbar & flexibel nachrüstbar
- Mehr als 1.000 SPEA 3030 Systeme weltweit installiert
Multifunktionstester:
100 %ige Abdeckung mit nur 1 Testsystem
Vom Manufacturing Defects Analyzer bis zum High-Performance-System bieten SPEA Boardtester die überragende Lösung für parametrische und dynamische Funktionstests auf Komponenten-, Cluster- und Boardebene. Wir testen 100% aller elektronischen, mechanischen und elektromechanischen Bauteile auf der Baugruppe.