Shanghai (China)
3月 17, 2021
2021 中国国际半导体展

2021年3月17日至19日中国国际半导体展N3#3667展位
SPEA与您不见不散
在上海新国际博览中心发现我们最新的测试产品
了解在节省测试成本的同时如何捕获电子设备中的每个缺陷
探索测试设备的SPEA解决方案:
- 模拟,数字,混合信号IC
- 功率IC和模块
- MEMS和传感器
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