Highlights
- Bis zu 416 Prüflinge können parallel getestet werden
- Kontaktbehaftete, kontaktlose, Dual-Interface und NFC-Prüflinge
- Kundenspezifische Protokolle werden unterstützt.
- Parametrische und Funktionstests
- Editor für Smartcard-Familien
Der stärkste Multi-Site-Tester bei minimierter Stellfläche
Die CT3000-Tester können bis zu 416 synchrone oder asynchrone Prüflinge parallel testen und bieten die höchste Pin-Zahl beim Testen von RFID-Prüflingen auf Wafer-Ebene (256 Geräte parallel).
Das System wird mit einem Hinge-Manipulator an den Waferprober angedockt und benötigt extrem wenig Platz. Zudem besteht eine direkte, kabellose Verbindung zwischen den Testinstrumenten und dem DUT: Die beste Signalintegrität ist jederzeit gewährleistet.
Asynchrone dedizierte Ressourcen pro DUT ermöglichen einen echten asynchronen Test mit statischer oder dynamischer Messung pro DUT.
RFID Test
RFID Test
CT3000-RFID-Kanäle können parallel extrem genaue und zuverlässige Messungen zu Impedanz, Retro-Modulationsindex und FDT-Zeit durchführen.
Die Kanäle führen eine Kodierung und -Dekodierung des Kommunikationsprotokolls für den DUT.
Jeder Kanal ist außerdem mit einem Controller ausgestattet, um das Kommunikationsprotokoll des DUT parallel zu dekodieren und so einen vollständigen Funktionstest der internen Modulstruktur durchzuführen.
Die Kanäle sind mit dedizierten CPUs ausgestattet, was eine vollständige Programmierbarkeit zum Testen von kundenspezifischen Protokollen ermöglicht.
Der Test-Frequenzbereich liegt zwischen 125 kHz und 15 MHz (LF/HF).
Bereit zum Testen all Ihrer Smartcard-Module
Bereit zum Testen all Ihrer Smartcard-Module
Die CT3000-Tester sind offen und konfigurierbar, können jede Art von Kommunikationsprotokollen auf Smartcards testen und für neue Technologien aufgerüstet werden.
Die Systeme können alle Prüflinge testen, die auf den gängigen Standardprotokollen basieren (wie ISO 18000, EPC Global Gen 2, ISO 14443, ISO 15693, MIFARE™, DESFIRE™, FeliCa™, ISO 11784/85, ICode™, Hitag™, ISO 7816, ISO 7813) und können gleichzeitig Funktionstests unter Verwendung von kundenspezifischen Protokollen durchführen, die komplett durch den Chiphersteller definiert werden.
Kurze Testzeit und hochgenaue Messungen
Kurze Testzeit und hochgenaue Messungen
Die hochmodernen analogen Messgeräte des CT3000 verbinden eine Reduktion des Testzeit mit extrem genauen Messungen.
Die DVM-Einheiten sind in der Lage, Daten zu verarbeiten und mathematische Berechnungen zu den gemessenen Werten durchzuführen. Dies gewährleistet genaue Messungen und keine Kompromisse beim Datenaustausch, sowohl bei Einzel- als auch parallelen Multi-Site-Messungen.
Testmöglichkeiten
Testmöglichkeiten
- Open-/Short-/Leakage-Vortests
- Impedanzmessung
- Prüfung passiver Bauelemente
- Einzelne Befehle oder Befehlsauswahl für RFID-Prüflinge
- Signalqualität und -stärke
Testprogrammerstellung & Debugging < 1 Tag
- Benutzerfreundliche und leistungsstarke Software
- Darstellung der RFID-Signalform
- Signal Viewer und Data Analyzer
- Bibliothek für Smartcard-Testfunktionen
- Debugging-Software
- Software für die Produktion
GERÄTE
Smartcard
NFC
RFID
