ID装置晶片测试仪
CT3000

NFC、CPU、内存、射频识别设备晶片测试

主要特点

最多416个并行测试设备
接触式、非接触式、双接口式、NFC
支持自定义协议
参数和功能测试
智能卡设备系列套件编辑器

最高的多站点零占用空间测试仪

CT3000测试仪可以并行测试多达416个同步或异步设备，并在晶片级测试射频识别设备（并行256个设备）时提供最高的管脚计数。

该系统可通过铰链操纵器与晶片探针对接，做到真正的零空间解决方案，同时在测试资源和被测设备之间实现直接、无电缆连接：始终保证信号的最佳完整性。

可对每个被测设备的异步专用资源进行真正的异步测试，每个模具都有静态或动态测量。

RFID测试

CT3000射频识别通道可以对阻抗、反向调制指数、FDT时间进行非常精确和可靠的并行测量。

该通道可以对被测设备的通信协议进行实时编码和解码。

每个通道还配有一个控制器，可对被测设备的通信协议进行真正的并行解码，从而对内部模块结构进行完整的功能测试。

通道配有专用的CPU，以允许对定制协议进行完全编程测试。

测试频率范围为125kHz至15MHz（低频/高频）

随时可对所有智能卡模块进行测试

开放的且可配置的CT3000测试仪，可对智能卡所使用的任何通信协议进行测试，并针对新技术进行更新。

该系统可以基于通用标准协议（例如，ISO 18000、EPC Global Gen 2、ISO 14443、ISO 15693、MIFARE™、DESFIRE™、FeliCa™、ISO 11784/85、ICode™、Hitag™、ISO 7816）对设备进行测试，同时还可以使用完全由设备制造商定义的协议进行功能验证。

超精密测量用时短

CT3000的最新技术模拟仪器可缩短测试时间，并进行非常精确的测量。

DVM单元能够对所获得的数值进行数据处理和数学计算。这样，即可以确保精确测量，又不会影响单站点或多站点并行测量的数据交换。

测试能力

开路/短路/泄漏初步测试
阻抗测量
无源器件测试
射频识别设备的单一命令或命令调整
信号清晰度和强度