Características importantes
- Hasta 80 dispositivos testeados en paralelo
- Para contacto, sin contacto, interfaz dual, UHF
- Soporte SAM para dispositivos sin contacto criptográficos
- Tests paramétrico y funcional
- Editor de suite de familia de dispositivos de tarjeta inteligente
Listo para testear todos tus módulos de tarjeta inteligente
Los sistemas CT1000 pueden testear módulos de tarjetas inteligentes de contacto y sin contacto, y también pueden testear dispositivos de interfaz dual (integrando chips de tarjetas de contacto y sin contacto en un solo modulo).
Los testers CT1000 son abiertos y configurables para testear cualquier tipo de protocolos de comunicación utilizados en módulos de tarjetas inteligentes y para ser actualizados para nuevas tecnologías. Los sistemas pueden testear dispositivos que utilizan los protocolos estándar comunes (como ISO 18000, EPC Global Gen 2, ISO 14443, ISO 15693, MIFARE™, DESFIRE™, FeliCa™, ISO 11784/85, ICode™, Hitag™, ISO 7816, ISO 7813), y están listos para testear también la próxima generación de protocolos de tarjetas.
Además, los sistemas CT1000 permiten la realización de verificaciones de funcionalidad mediante el uso de protocolos personalizados, completamente definidos por el fabricante del dispositivo.
Test RFID
Test RFID
Los canales RFID CT1000 pueden realizar, en paralelo, mediciones de impedancia extremadamente precisas y fiables, índice de modulación retroactiva, tiempo FDT.
Los canales realizan la codificación y decodificación en tiempo real del protocolo de comunicación para el dispositivo bajo test.
Cada canal también está equipado con un regulador, para decodificar en verdadero paralelo el protocolo de comunicación del dispositivo bajo test, y así realizar tests funcionales completos de la estructura interna del módulo.
Test paralelo multisitio
Test paralelo multisitio
Los testers CT1000 realizan tests de alto paralelo a bajo coste: cada módulo CT1000 puede testear 32 dispositivos síncronos o asíncronos en paralelo.
Además, los testers CT1000 han sido diseñados para ser conectados en paralelo, con el fin de testear más de 32 sitios.
Cuando se utilizan para el test final, los testers se pueden conectar a los manejadores en carretes SPEA H1000 o a manejadores de terceros. Cuando se utilizan para tests de wafers, se pueden conectar al probador mediante cables dedicados.
Breve tiempo de test por una medición de ultra precisión
Breve tiempo de test por una medición de ultra precisión
La instrumentación analógica de última tecnología de CT1000 combina la reducción del tiempo de test con mediciones extremadamente precisas.
Las unidades DVM son capaces de tratamiento de datos y cálculos matemáticos sobre los valores adquiridos. Esto garantiza mediciones precisas sin comprometer el intercambio de datos para mediciones paralelas de un solo sitio o multisitio.
Capacidades de test
Capacidades de test
- Test preliminares Abierto/Breve/Fuga
- Medición de capacitancia & impedancia
- Caracterización del dispositivo
- Test final
- Test de dispositivos RFID con o sin antena
- Claridad e intensidad de las señales
Generación y depuración de los programas de test < 1 día
- Entorno de programación fácil de aprender
- Generación del programa de test guiada
- La generación automática de códigos reduce drásticamente el tiempo necesario para desarrollar, depurar y lanzar el programa
- Importación automática de datos
- Bibliotecas de instrucciones orientadas al DUT y orientadas al instrumento
- Mapa de DUT
- Desarrollo de aplicaciones muy rápido
- Analizador de resultados de test
- Shmoo Plot
- Fácil de realizar. Fácil de seguir. Fácil de mantener.
Dispositivos
Combi Devices (Contact + Contactless)
Contact Devices (CPU, Memory)
RFID
Wafer
Contactless devices (LF, HF, UHF, Crypto devices)
